綜合熱分析儀主要是測量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備，可以進行微小領(lǐng)域（微米等級）、納米薄膜、Sic（單晶體、多晶體）、AIN等的測量。熱分析儀檢測設(shè)備利用激光對樣品進行調(diào)制循環(huán)加熱、通過紅外線放射量的變化，將樣品內(nèi)部異常部分的檢測或不均勻性的熱特性可視化。內(nèi)載紅外宏觀光學系照相機，可高倍率觀察。并且，使用樣品加熱器的熱傳播檢查和簡易溫度測量都可以進行。

　　綜合熱分析儀的原理：

　　消除稱重量、樣品均勻性、升溫速率一致性、氣氛壓力與流量差異等因素影響，TG與DTA/DSC曲線對應(yīng)性更佳。根據(jù)某一熱效應(yīng)是否對應(yīng)質(zhì)量變化，有助于判別該熱效應(yīng)所對應(yīng)的物化過程(如區(qū)分熔融峰、結(jié)晶峰、相變峰與分解峰、氧化峰等)。在反應(yīng)溫度處知道樣品的當前實際質(zhì)量，有利于反應(yīng)熱焓的準確計算。

　　產(chǎn)品不僅波長連續(xù)自動可調(diào)，而且精度大幅提高，從傳統(tǒng)元素分析儀的波長誤差一般20nm(±5nm)提高到現(xiàn)在的3nm，因而可以使產(chǎn)品在擴大應(yīng)用范圍的同時，提高分析檢測的準確度。可檢測普碳鋼、低合金鋼、高合金鋼、生鑄鐵、球鐵、合金鑄鐵等多種材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多種元素。每個元素可儲存99條工作曲線，品牌電腦微機控制,全中文菜單式操作。可以滿足冶金、機械、化工等行業(yè)在爐前、成品、來料化驗等方面對材料多元素分析的需要。

　　綜合熱分析儀檢測設(shè)備特點

　　1、熱分析儀熱物理性顯微鏡是測量熱物性值中熱滲透率的一種設(shè)備；

　　2、熱分析儀檢測設(shè)備可以通過點、線、面測量樣品的熱物性；

　　3、該設(shè)備可以測量以往難以測量的微米等級的熱物性值的分布；

　　4、非接觸方式且高分辨率的熱物性測量設(shè)備；

　　5、檢測光spot直徑3μm、高分辨率來測量微小領(lǐng)域的熱物性（點、線、面  測量）；

　　6、因為可改變深度范圍來測量，所以從薄膜、多層膜到散裝材料都可測量；

　　7、 基板上的樣品也可測量；

　　8、 熱分析儀激光非接觸式測量；

　　9、可檢測薄膜下的裂紋、孔隙、脫落等問題。